ZITN 135 degrés/160 degrés/185 degrés HQA-Série T haute-L'accéléromètre flexible à quartz à haute température est un accéléromètre à retour de couple uniaxial. Il détecte le signal d'accélération externe de la masse, qui est ensuite démodulé et amplifié par le circuit d'asservissement, produisant un signal de courant proportionnel au signal d'accélération.
L'accéléromètre flexible à quartz ZITN 135 degrés/160 degrés/185 degrés HQA-série T haute-température est largement utilisé dans les systèmes de navigation de haute-précision pour l'aérospatiale, les systèmes d'inclinométrie de forage pétrolier et les systèmes d'exploration géologique.
Caractéristiques du produit
- Résistance aux hautes températures ;
- Résistance aux vibrations et aux chocs ;
- Petite taille et poids léger ;
- Alimentation électrique à large-tension (faible consommation d'énergie) ;
- Sortie de signal électrique analogique ;
- Taille personnalisable selon les besoins.
Indicateurs de paramètres techniques clés
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Numéro de série |
Article |
HQA-T135 |
HQA-T160 |
HQA-T185 |
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1 |
Plage de mesure (g) |
±30g |
±30g |
±30g |
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2 |
Seuil (g) |
1×10⁻⁵g |
1×10⁻⁵g |
1×10⁻⁵g |
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3 |
Biais (K0) |
<±15mg |
<±15mg |
<±25mg |
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4 |
Dérive de température du biais (K0) |
<120μg/℃ |
<120μg/℃ |
<120μg/℃ |
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5 |
Facteur d'échelle (K1) |
2,4 mA/g±10 % |
2,4 mA/g±10 % |
2,4 mA/g±10 % |
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6 |
Dérive en température du facteur d'échelle (K1) |
<60ppm/℃ |
<60ppm/℃ |
<60ppm/℃ |
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7 |
Répétabilité complète de K0&K1 (Remarque 1) |
<2mg |
<2mg |
<3mg |
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8 |
Angle de désalignement |
<1mrad |
<1mrad |
<1mrad |
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9 |
Bande passante |
>300Hz |
>300Hz |
>300Hz |
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10 |
Température de fonctionnement maximale |
135 degrés |
160 degrés |
185 degrés |
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11 |
Tension de fonctionnement |
±(10~18)VCC |
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12 |
Résistance d'isolation |
50 MΩ (@50 VCC) |
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13 |
Consommation d'énergie |
<240mw@15V |
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14 |
Consommation actuelle |
<10mA@15V |
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15 |
Taille |
Bride de méthode : 29,5 mm × 29,5 mm × 18,5 mm ; Bride circulaire : φ28 mm × 18,5 mm |
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Remarque : Après des tests environnementaux tels que les vibrations, les cycles de température, les chocs et le stockage à haute température-, la répétabilité des tests à température ambiante-est compromise. |
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